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高精度光學坐標測量儀

簡要描述：高精度光學坐標測量儀μCMM是奧地利Bruker Alicona公司研發生產的集樣品尺寸特性，位置，形狀和粗糙度測量功能於一體的全程高精度測量係統。

  • 產品型號：μCMM
  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2023-11-17
  • 訪  問  量：1957

詳細介紹

高精度光學坐標測量儀μCMM的突出特點：

. 高精度測量公差非常小的部件 
. μCMM是同類產品中精確很高的純光學微坐標測量係統。 
. 用戶將觸覺坐標測量技術和光學表麵測量技術的優勢結合起來，隻用一個傳感器測量零件的尺寸、位置、形狀和粗糙度。 
. μCMM提供了更高幾何精度的光學三維測量，能夠測量大部件上的小表麵細節，並精確確定這些單獨測量的相對位置。 
. 可測量表麵的光譜包括所有常見的工業材料和複合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、鉻、矽。 
. 材料從啞光到拋光各種反光成分都可以測量。 
. 操作簡單是通過單按鈕解決方案，有一個集自動化和人體工程學控製元素特別設計的控製器。 
. 帶線性驅動的空氣軸承軸可實現無磨損使用和高精度、以及更快速測量。這也使得μCMM非常適合在生產中長期使用。

 

高精度光學坐標測量儀μCMM的技術參數：

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